高低溫交變濕熱試驗箱是、汽車、家電、科研等領域*的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能；、或恒定濕熱試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能.適用于學校，工廠，，研位，等單位。
二箱式：上部為高溫箱，下部為低溫箱，兩箱之間由樣品架連結，經(jīng)氣動系統(tǒng)在兩箱間切換。
·規(guī)格與技術參數(shù)
型號 TS-42
內部尺寸（cm）：40×30×35
外部尺寸（cm）：162×200×142
測試區(qū)溫度范圍：高溫：+60℃～+150℃ 低溫：-10℃ ～ －65℃（A：-45℃ B：-55℃ C：-65℃）
（高溫區(qū)）升溫時間：RT—200℃約需45min
（低溫區(qū)）降溫時間：RT—-70℃約需90min
回復時間：5min內
溫度穩(wěn)定度：±0.2℃
保溫材質：耐高溫、高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣材料
系 統(tǒng)：P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調溫控制系統(tǒng)
冷凍系統(tǒng)：法國泰康全封閉風冷式復疊機/德國谷輪水冷式機組
保護裝置：無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關、故障警告系統(tǒng)、電子警報器
配 件：上下可調隔層兩片
電 源；3Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380V/415VAC±10% 50Hz
三箱式：該沖擊試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試，半導體，電子線路板，金屬化學，材料等測試設備。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗箱中部，高溫沖擊時，上風門打開，形成高溫內循環(huán)。低溫沖擊時，上風門關閉，下風門打開，形成低溫內循環(huán)。該沖擊試驗箱的大特點是：試件（待測品）靜止不動，使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便。
